Leistungsangebot

Prozess-Monitoring

Auf Basis bestehender optisch-spektroskopischer Messsysteme werden Angeboten werden zudem Geräteentwicklungen neuer optisch-spektroskopischer Sensoren, sowie deren Anwendungsüberführungen und Prozess-Implementierungen. Weiterhin bieten wir vielfältige Möglichkeiten zur Spektrensimulation, Datenexploration und chemometrisch-multivariaten Datenauswertung.

gefalteter Strahlengang einer kompakten Meßzelle zur Spurengasdetektion
© Fraunhofer IWS
gefalteter Strahlengang einer kompakten Meßzelle zur Spurengasdetektion
imanto® microscopy System
© Fraunhofer IWS
imanto® microscopy System
Sichtbarmachen des „Unsichtbaren“: Abbildung von Gras mit Kunstraseneinsätzen (Abbildung im nahen Infrarot)
© Fraunhofer IWS
Sichtbarmachen des „Unsichtbaren“: Abbildung von Gras mit Kunstraseneinsätzen (Abbildung im nahen Infrarot)

Permeation

  • Bestimmung der Gaspermeationsrate von Ultrabarriermaterialien insbesondere die Wasserdampfpermeationsrate (WVTR) von Barrierefolien für OLED, organische Photovoltaik, Vakuumisolationspaneelen
  • HiBarSens-Messsystem für Hochbarrierematerialien
     

Hyperspektrales Imaging (HSI)

  • imanto®-Plattform für Geräteentwicklung (Starterkits, Messaufbauten) und Anwendungsentwicklung
  • flächige, online-/inline-fähige Schichtuntersuchungen und Schichtdickenanalytik
  • Ortsaufgelöste Echtzeitanalyse von Stoff- und Produktströmen (z.B. Glas, Polymere, Erze, pharmazeutische Wirkstoffe, Pulverströme) auf Basis spektroskopischen Imagings, Einsatz in Produktion und Recycling
  • Echtzeit-Erkennung und Klassifikation von Verunreinigungen und Produktqualitäten
     

Gasanalytik

  • Prozessaufklärung und Prozessüberwachung von Multigasatmosphären; Analytik von Prozess- und Abgasen z.B. von CVD-, Ätz-, Sinter- und Verbrennungs­prozessen
  • Spurengasanalytik (ppm- ppb) zur Qualitätskontrolle und Prozessüberwachung, insbesondere Quantifizierung von Feuchtespuren (TraceScout, ISPROM)
  • Ermittlung der Erdgas-Zusammensetzung 
     

Spektroskopische Dienstleistungen

  • Optisch-spektroskopische Charakterisierung von Oberflächen und (Multi-) Schichtsystemen hinsichtlich Zusammensetzung, Schichtdicken, Verunreinigungen, Homogenität, Feuchtegehalt etc.
  • Bildgebende spektroskopische Inspektionen von Oberflächen aller Art zur Bestimmung optischer und chemischer Eigenschaften (z.B. Gaslecks oder Beschichtungen)
  • FT-MIR, FT-NIR, RAMAN-, UV-VIS- und ellipsometrische Untersuchungen
  • spektroskopische Untersuchung übergroßer Proben (IRspecXL)
  • vor-Ort Untersuchungen mit Prozess-Spektrometern
  • Entwicklung, Bau und Test neuartiger Analysatorlösungen inkl. Steuerung und Regelungstechnik
  • Recherche Spektrendatenbanken, Spektrensimulation, Datenexploration, multivariate (chemisch-statistische) Auswertung