Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWSOberflächencharakterisierung
Charakterisierung von Oberflächen mittels Kontaktwinkel-, Rauheits- und Schichtdickenmessung, Lichtmikroskopie, REM/EDX und spektroskopischer Methoden.
Kontaktwinkel- und Rauheitsmessung
Das veränderte Benetzungsverhalten nach der Oberflächenvorbehandlung wird durch Messungen des Kontaktwinkels verschiedener Flüssigkeiten auf der vorbehandelten Oberfläche gemessen. Profil-, Rauheits- sowie zerstörungsfreie Dickenmessungen von 3D-Oberflächen gemäß ISO 25178 für berührungslose Messmethoden erfolgen mittels konfokalem Laserscanning-Farbmikroskop oder nach dem Prinzip der Lasertriangulation. Die Oberflächencharakterisierung ist hierbei ebenso für lichtundurchlässige Materialien wie für transparente Messobjekte möglich.
Lichtmikroskopie, REM/EDX und Spektroskopie
Darüber hinaus werden licht- und elektronenmikroskopische Methoden sowie in Kooperation mit anderen Forschungsgruppen XPS und elektrochemische Methoden zur Oberflächencharakterisierung angewandt.