Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS
Analytisches TEM JEM-2100
Sternförmige Gleitbandanordnung in laserschockbehandeltem Molybdän – TEM-Hellfeldaufnahme
Hersteller / Typ
- JEM-2100; Fa. JEOL
Ausstattung / Technische Daten
- 200 kV Beschleunigungsspannung
- 4-stufiges Kondensorsystem zur flexiblen Strahlsteuerung
- hochauflösender analytischer Polschuh: Auflösung: 0,14 nm; Probenkippung ± 30°
- moderne Multiscan-Kamerasysteme:
- Weitwinkelkamera für schnelles Live-Bild, Übersichten und Beugungsaufnahmen
- hochauflösende Kamera mit ausgezeichneter Bildqualität - Rastereinrichtung (STEM)
- EDX-Analysesystem (Oxford)
Methoden
- konventionelle Transmissionselektronenmikroskopie
- hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (HRTEM)
- Elektronenbeugung: Feinbereichsbeugung (SAD) und Nanobeugung (NBD)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM): Hell- und Dunkelfeldabbildung (HF, DF, HAADF)
- Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX): Punkt-Analyse, Linescan, Mapping, Sequentielle Analyse, Driftkorrektur