Wo bin ich?
© Fraunhofer IWS
Hochfrequenz-Prüflabor zur Kurzzeitdiagnostik von Werkstoffen und Bauteilen
Werkstoffcharakterisierung und Mikrostrukturierung mittels Focused Ion Beam (FIB) und hochauflösender Rasterelektronenmikroskopie (HR-SEM)
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS