Analytik

Auflichtmikroskop (Olympus)#

Auflichtmikroskop
© Fraunhofer IWS Dresden
Auflichtmikroskop
  • Model: BX41RF-LED
  • opt. Vergrößerung: 50 - 1000-fach
  • elektronische Bilddatenauswertung

TGA#

Für thermogravimetrische Untersuchungen steht das TGA 8000 von Perkin Elmer zur Verfügung. Mit ihm können Materialien und Materialzusammensetzungen, wie Druckpasten, bis 1200 °C analysiert werden, indem die Masseänderung in Abhängigkeit der Temperatur in einer bestimmten Atmosphäre (Stickstoff, Luft, Intertgas) unter einem bestimmten Temperaturregime aufgezeichnet und ausgewertet wird. Zudem ist es möglich die entstehenden Abgase mit einem IR-Spektrometer zu analysieren um Rückschlüsse auf die Materialzusammensetzung zu ziehen.

Rheometer Kinexus pro Active (Malvern) #

Rheometer zur Charakterisierung von Pasten und Tinten
© Fraunhofer IWS Dresden
Rheometer zur Charakterisierung von Pasten und Tinten

Bei dem Kinexus pro Active Rheometer handelt es sich um ein präzises, luftgelagertes Rotationsrheometer, bei dem sowohl Rotations- als auch Oszillationsversuche durchgeführt werden können.

Es ist für die rheologische Charakterisierung von Dispersionen und weichen Feststoffen ausgerichtet und kann für rheologische Standardtest, wie die Aufnahme von Fließkurven, Sprungversuchen, Hysteresen und Amplituden- und Frequenztests genutzt werden.

Zusätzlich können Arbeitsanweisungen individuell auf verschiedenste Prozesse (z. B. Druckprozesse, Verarbeitung von Farben, Lacken, Kosmetik und Lebensmitteln) angepasst werden, was durch eine spezifische Programmierung von Prozessabläufen mit der abschnittsweisen Vorgabe von Scherung oder Schubspannung ermöglicht wird.


Technische Daten

  • Betriebsarten: Scherratensteuerung, Schubspannungssteuerung, direkte Deformationssteuerung
  • Drehmomentbereich: 10 nNm - 200 mNm (Rotation), 2 nNm - 200 mNm (Oszillation)
  • Winkelgeschwindigkeit: 10 nrad - 500 rad
  • Frequenzbereich: 1 µHz - 150 Hz
  • Temperaturbereich: -40 °C - 200 °C
  • Messsysteme: Material: Edelstahl 316, verschiedene Platte-Platte- und Platte-Kegel-Systeme, Lösemittelfalle

4-Punkt-Messplatz (Jandel Engineering) #

4-Punkt-Messplatz
© Fraunhofer IWS Dresden
4-Punkt-Messplatz
4-Punkt-Messplatz
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4-Punkt-Messplatz

Mit dem 4-Punkt-Messplatz kann über die Vierpunktmessung der Flächenwiderstand bzw. der elektrische Widerstand von Oberflächen oder dünner Schichten ermittelt werden. Die Anwendung reicht über die Messung von Glasplatten mit leitfähigen Schichten wie TCOs über Metallschichten bis zu Wafern und Ingots.


Messkopf

  • Jandel Multiheight Probe Station
  • manuell auf- und abfahrbarer zylindrischer Probenkopf, flache Auflagefläche
  • Proben bis zu 250 mm Durchmesser und 250 mm Höhe messbar
  • JANDEL 4-Punkt-Probenkopf Typ: TBD (Nadelabstand: 1 mm, Nadeldurchmesser: 100 µm)
  • Aufsetztkraft: justierbar im Bereich 60 g - 150 g


Messeinheit

  • Niederspannungsmultimeter (Keithley Instruments)

Leitfähigkeit und Seebeck-Koeffizient#

Messplatz zur Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit und des Seebeck-Koeffizienten zwischen Raumtemperatur und 900 K (IPM-SR7)
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Messplatz zur Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit und des Seebeck-Koeffizienten zwischen Raumtemperatur und 900 K (IPM-SR7)

Zur Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit und des Seebeck-Koeffizienten zwischen Raumtemperatur und 900 K steht ebenfalls Messtechnik zur Verfügung.

Ladungsträgerdichte und -mobilität#

Messplatz zur Ladungsträgerbestimmung
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Messplatz zur Ladungsträgerbestimmung

Als weitere Möglichkeit zur Materialcharakterisierung verfügt die Gruppe Drucken über einen Messplatz zur Bestimmung der Ladungsträgerdichte und der Ladungsträgermobilität in Schichten. Dabei wird durch ein senkrecht zur Schicht ausgerichtetes Magnetfeld (magnetische Flussdichte 0,7 T) und einen konstanten Stromfluss innerhalb der Schicht, die sogenannte Hallspannung senkrecht zur Richtung des Stromflusses gemessen. Aus der Hallspannung lassen sich Ladungsträgerkonzentrationen und -mobilitäten berechnen.