Analytisches Transmissionselektronenmikroskop

Analytisches TEM JEM-2100
© Frank Höhler

Analytisches TEM JEM-2100

Sternförmige Gleitbandanordnung in laserschockbehandeltem Molybdän – TEM-Hellfeldaufnahme
© Fraunhofer IWS Dresden

Sternförmige Gleitbandanordnung in laserschockbehandeltem Molybdän – TEM-Hellfeldaufnahme

Hersteller / Typ

  • JEM-2100; Fa. JEOL


Ausstattung / Technische Daten

  • 200 kV Beschleunigungsspannung
  • 4-stufiges Kondensorsystem zur flexiblen Strahlsteuerung
  • hochauflösender analytischer Polschuh: Auflösung: 0,14 nm; Probenkippung ± 30° 
  • moderne Multiscan-Kamerasysteme
  • Weitwinkelkamera für schnelles Live-Bild, Übersichten und Beugungsaufnahmen
  • hochauflösende Kamera mit ausgezeichneter Bildqualität
  • Rastereinrichtung (STEM)
  • EDX-Analysesystem (Oxford)


Methoden

  • konventionelle Transmissionselektronenmikroskopie
  • hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (HRTEM)
  • Elektronenbeugung:
  • Feinbereichsbeugung (SAD)
  • Nanobeugung (NBD)
  • Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
  • Hell- und Dunkelfeldabbildung (HF, DF, HAADF)
  • Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)
  • Punkt-Analyse, Linescan, Mapping, Sequentielle Analyse, Driftkorrektur