Oberflächencharakterisierung

Oberflächencharakterisierung

Laserstrukturiertes Medizinbauteil
© Fraunhofer IWS Dresden

Laserstrukturiertes Medizinbauteil

Oberflächentopografie eines laserstrukturierten Medizinbauteils, aufgenommen mittels Laserscanningmikroskop
© Fraunhofer IWS Dresden

Oberflächentopografie eines laserstrukturierten Medizinbauteils, aufgenommen mittels Laserscanningmikroskop

Charakterisierung von Oberflächen mittels Kontaktwinkel-, Rauheits- und Schichtdickenmessung, Lichtmikroskopie, REM/EDX und spektroskopischer Methoden.

Kontaktwinkel- und Rauheitsmessung

Das veränderte Benetzungsverhalten nach der Oberflächenvorbehandlung wird durch Messungen des Kontaktwinkels verschiedener Flüssigkeiten auf der vorbehandelten Oberfläche gemessen. Profil-, Rauheits- sowie  zerstörungsfreie Dickenmessungen von 3D-Oberflächen gemäß ISO 25178 für berührungslose Messmethoden erfolgen mittels konfokalem Laserscanning-Farbmikroskop oder nach dem Prinzip der Lasertriangulation. Die Oberflächencharakterisierung ist hierbei ebenso für  lichtundurchlässige Materialien wie für transparente Messobjekte möglich.

Lichtmikroskopie, REM/EDX und Spektroskopie

Darüber hinaus werden licht- und elektronenmikroskopische Methoden sowie in Kooperation mit anderen Forschungsgruppen XPS und elektrochemische Methoden zur Oberflächencharakterisierung angewandt.