Fresnelsche Formeln

Modellrechnungen zur Röntgenreflexion an Multischichten

Unter Verwendung der Fresnelschen Formeln für die Reflexion und Transmission von elektromagnetischen Wellen an Grenzflächen kann auch für Multischichten exakt berechnet werden, welche elektrischen und magnetischen Felder in Abhängigkeit von Wellenlänge und Einfallswinkel der Strahlung innerhalb der Multischicht auftreten.

Theoretische Vorhersagen über das Reflexionsverhalten von Multischichten erlauben eine Aussage darüber, welche Materialien für eine gewisse Anwendung vielversprechend sind. Sind mehrere Schichtmaterialien möglich, muss das Experiment Auskunft geben, welches am geeignetsten ist. Die theoretische Vorhersage ist insoweit nur begrenzt möglich, dass das reale Schichtwachstum nicht betrachtet wird. Unterschiedliche Materialien verhalten sich durchaus verschieden. Sowohl die Diffusion zu anderen Schichtpartnern als auch die Rauheit kann bei gleichen äußeren Beschichtungsbedingungen verschieden sein.

Im IWS Dresden wird zur Berechnung des Reflexionsverhaltens von Modell- Schichtsystemen vorwiegend die Software IMD von David Windt eingesetzt. Damit können Reflexionsspektren in Abhängigkeit aller relevanter Parameter berechnet werden. Die Implementierung eigener optischer Datensätze für spezielle Schichten ist ebenfalls möglich.